柱效計算
柱效以每根柱子的理論塔板數表示,計算公式為 N = 5.54 ( t R / w 0.5 ) 2 其中 t R 是目標分析物的保留時(shí)間,w 0.5 是半峰高處的峰寬.
即使峰沒(méi)有與相鄰峰完全分離(分辨率差),只要峰之間的谷值低于半峰高,這種半峰高方法也可以確定每根色譜柱的理論塔板數 (N)。峰的高度。 半高測量通常是數據系統自動(dòng)確定的首 選方法。
每根柱子的理論塔板數越大,峰越尖! 如果您需要計算每米的理論塔板數,則必須使用以下公式:
每根色譜柱的理論塔板數 x 100/HPLC 色譜柱長(cháng)度 (cm)= 每米理論塔板數
峰值不對稱(chēng)因子
峰不對稱(chēng)因子,通常表示為 A s 使用以下等式計算 A s = b/a 其中 b 是從峰中點(diǎn)( 與峰*高點(diǎn)垂直 )到峰后緣的距離,在 10% 處測得峰高,a 是在 前緣到峰中點(diǎn)( 峰高的 處 從峰 與峰*高點(diǎn)垂直)的距離 10% 測得的 。
拖尾因子
拖尾因子 (T f ) 是峰對稱(chēng)性的 USP 系數。 它使用以下公式計算: T f = (a+b)/2a 其中 a 是從峰的前沿到峰中點(diǎn)( 與峰的*高點(diǎn)垂直)的距離,在峰高的 處 5% 測量,并且b 是從峰中點(diǎn)( 與峰*高點(diǎn)垂直 )到峰后緣的距離,在峰高的 5% 處測得。
解析度
分辨率 (R s ) 是分離質(zhì)量的量度。 為了確定 2 個(gè)峰之間的分離度,我們需要測量 2 個(gè)目標峰(t 的保留時(shí)間以及 r2 和 t r1 ) 在基線(xiàn)處的兩個(gè)峰的寬度(w 1 和 w 2 )。峰的兩側。 通常計算如下:
R s s = (t r2 – t r1 ) / ((0.5 * (w 1 + w 2 )
由于幾乎每個(gè)峰都顯示出一定程度的拖尾,因此為了允許少量拖尾并在峰之間仍然保留一點(diǎn)平坦的基線(xiàn), R s 通常需要 ≥ 2.0 以在兩個(gè)感興趣的峰之間獲得適當的分辨率。
該方程非常方便,并為峰分辨率計算提供了良好的結果,但僅當峰在基線(xiàn)水平上分辨時(shí)才有用。 但是,我們經(jīng)常會(huì )遇到峰之間相距很小的情況。 峰在底部重疊,在基線(xiàn)處測量峰寬幾乎是不可能的。
在這些情況下,就像我們在中間峰高處測量效率一樣,可以使用相同的方法通過(guò)以下等式計算分離度:
Rs = (tR2 – tR1) / ((1.7 * 0.5 (w0.5,1 + w0.5,2))
其中w 0.5,1 和w 0.5,2 是在峰值高度一半測得的峰值的寬度。 請注意,將因子 1.7 添加到分母以調整半高處的寬度差異。 半高技術(shù)是許多數據系統測量分辨率的方式,因為它比基線(xiàn)寬度更容易測量。
每根色譜柱的理論塔板數(性能)/對稱(chēng)因子/拖尾因子/分辨率可以并且將會(huì )根據所使用的分析類(lèi)型和分析條件而變化。